GB/T 40110-2021

Surface chemical analysis—Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

NORMA vydána dne 21.5.2021

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (12361.70 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (12361.70 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 40110-2021
Publication date standards: 21.5.2021
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB