GB/T 40110-2021

Surface chemical analysis—Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

NORMA vydána dne 21.5.2021

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (12852.50 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (12852.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 40110-2021
Datum vydání normy: 21.5.2021
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB