GB/T 40109-2021

Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of boron in silicon

NORMA vydána dne 21.5.2021

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (6568.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 40109-2021
Datum vydání normy: 21.5.2021
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB