
Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory(DDR3 SDRAM)
NORMA vydána dne 7.6.2018
Označení normy: GB/T 36474-2018
Datum vydání normy: 7.6.2018
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB