
Test method for carbon and oxygen content of single crystal silicon—Low temperature fourier transform infrared spectrometry
NORMA vydána dne 29.12.2017
Označení normy: GB/T 35306-2017
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 29.12.2017
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB