GB/T 33922-2017

Wafer level test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive die performances

NORMA vydána dne 12.7.2017

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (5415.80 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 33922-2017
Publication date standards: 12.7.2017
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB