GB/T 32495-2016

Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of arsenic in silicon

NORMA vydána dne 24.2.2016

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (7356.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 32495-2016
Datum vydání normy: 24.2.2016
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB