GB/T 32280-2022

Test method for warp and bow of silicon wafers—Automated non-contact scanning method

NORMA vydána dne 9.3.2022

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (7056.60 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 32280-2022
Datum vydání normy: 9.3.2022
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB