GB/T 32280-2015

Test method for warp of silicon wafers—Automated non-contact scanning method

NORMA vydána dne 10.12.2015

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (12348.00 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 32280-2015
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 10.12.2015
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB