GB/T 32278-2015

Test methods for flatness of monocrystalline silicon carbide wafers

NORMA vydána dne 10.12.2015

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (3936.10 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 32278-2015
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.2015
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB