GB/T 31854-2015

Test method for measuring metallic impurities content in silicon materials used for photovoltaic applications by inductively coupled plasma mass spectrometry

NORMA vydána dne 3.7.2015

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (3978.20 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (3978.20 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 31854-2015
Datum vydání normy: 3.7.2015
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB