GB/T 30866-2014

Test method for measuring diameter of monocrystalline silicon carbide wafers

NORMA vydána dne 24.7.2014

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (3806.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 30866-2014
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 24.7.2014
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB