GB/T 30860-2014

Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells

NORMA vydána dne 24.7.2014

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (7490.30 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 30860-2014
Datum vydání normy: 24.7.2014
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB