GB/T 30701-2014

Surface chemical analysisChemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

NORMA vydána dne 27.3.2014

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (10339.90 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (10339.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 30701-2014
Datum vydání normy: 27.3.2014
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB