GB/T 29849-2013

Test method for measuring surface metallic contamination of silicon materials used for photovoltaic applications by inductively coupled plasma mass spectrometry

NORMA vydána dne 12.11.2013

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (5468.40 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (5468.40 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 29849-2013
Datum vydání normy: 12.11.2013
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB