GB/T 29505-2013

Test method for measuring surface roughness on planar surfaces of silicon wafer

NORMA vydána dne 9.5.2013

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (17025.00 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 29505-2013
Publication date standards: 9.5.2013
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB