
Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy
NORMA vydána dne 31.7.2012
Označení normy: GB/T 28634-2012
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 31.7.2012
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB