GB/T 26068-2010

Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers by non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance

NORMA vydána dne 10.1.2011

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (25146.00 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (25146.00 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 26068-2010
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.1.2011
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB