NORMSERVIS s.r.o.

GB/T 26067-2010

Standard test method for dimensions of notches on silicon wafers

NORMA vydána dne 10.1.2011

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (5666.40 CZK)
Anglicky a čínsky -
Tištěné (5666.40 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 26067-2010
Publication date standards: 10.1.2011
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB