GB/T 24582-2009

Test method for measuring surface metal contamination of polycrystalline silicon by acid extraction-inductively coupled plasma mass spectrometry

NORMA vydána dne 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (8397.30 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (8397.30 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 24582-2009
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.10.2009
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB