GB/T 24581-2009

Test method for low temperature FT-IR analysis of single crystal silicon for - impurities

NORMA vydána dne 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (11827.20 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 24581-2009
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.10.2009
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB