GB/T 24581-2009

Test method for low temperature FT-IR analysis of single crystal silicon for - impurities

NORMA vydána dne 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (11556.10 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 24581-2009
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 30.10.2009
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB