GB/T 24578-2024

Test method for measuring surface metal contamination on semiconductor wafers —Total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy

NORMA vydána dne 24.7.2024

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (10024.20 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (10024.20 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 24578-2024
Publication date standards: 24.7.2024
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB