GB/T 24578-2015

Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy

NORMA vydána dne 10.12.2015

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (8594.20 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (8594.20 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 24578-2015
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 10.12.2015
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB