GB/T 24578-2015

Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy

NORMA vydána dne 10.12.2015

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (8397.30 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (8397.30 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 24578-2015
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.2015
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB