GB/T 24578-2009

Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-ray fluorescence spectroscopy

NORMA vydána dne 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (12904.80 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (12904.80 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 24578-2009
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 30.10.2009
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB