GB/T 22572-2008

Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials

NORMA vydána dne 11.12.2008

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (3379.50 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (3379.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 22572-2008
Datum vydání normy: 11.12.2008
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB