GB/T 20176-2025

Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials

NORMA vydána dne 30.6.2025

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (11309.20 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (11309.20 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 20176-2025
Publication date standards: 30.6.2025
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB