NORMSERVIS s.r.o.

GB/T 19922-2005

Standard test methods for measuring site flatness on silicon wafers by noncontact scanning

NORMA vydána dne 19.9.2005

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (6579.90 CZK)
Anglicky a čínsky -
Tištěné (6579.90 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 19922-2005
Publication date standards: 19.9.2005
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB