GB/T 19444-2004

Oxygen precipitation characterization of silicon wafers by measurement of interstitial oxygen reduction

NORMA vydána dne 5.2.2004

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (3476.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 19444-2004
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 5.2.2004
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB