Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
NORMA vydána dne 24.11.2003
Označení normy: GB/T 19403.1-2003
Datum vydání normy: 24.11.2003
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB