GB/T 17866-1999

Guideline for programmed defect masks and benchmark procedures for sensitivity analysisof mask defect inspection systems

NORMA vydána dne 13.9.1999

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (8902.00 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (8902.00 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 17866-1999
Publication date standards: 13.9.1999
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB