Test methods of precious metal pastes used for thick-film microelectronics—Determination of resolution
NORMA vydána dne 19.8.1998
Označení normy: GB/T 17473.6-1998
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 19.8.1998
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB