
Test methods of precious metals pastes used for microelectronics-Determination of solids content
NORMA vydána dne 31.3.2008
Označení normy: GB/T 17473.1-2008
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 31.3.2008
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB