
Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay
NORMA vydána dne 30.10.2009
Označení normy: GB/T 1553-2009
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.10.2009
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB