
Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay
NORMA vydána dne 3.6.1997
Označení normy: GB/T 1553-1997
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 3.6.1997
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB