GB/T 14863-1993

Standard test method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes

NORMA vydána dne 30.12.1993

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (10496.20 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (10496.20 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 14863-1993
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.12.1993
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB