GB/T 14847-2010

Test mothod for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates by infrared reflectance

NORMA vydána dne 10.1.2011

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (6420.80 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (6420.80 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 14847-2010
Publication date standards: 10.1.2011
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB