GB/T 14847-1993

Test method for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates by infrared reflectance

NORMA vydána dne 24.12.1993

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (8391.70 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (8391.70 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 14847-1993
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 24.12.1993
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB