GB/T 14847-1993

Test method for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates by infrared reflectance

NORMA vydána dne 24.12.1993

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (7788.10 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (7788.10 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 14847-1993
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 24.12.1993
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB