GB/T 14146-2021

Test method for carrier concentration of silicon epitaxial layers—Capacitance-voltage method

NORMA vydána dne 21.5.2021

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (6600.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 14146-2021
Datum vydání normy: 21.5.2021
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB