GB/T 14146-2009

Silicon epitaxial layers-determination of carrier concentration-mercury probe voltages-capacitance method

NORMA vydána dne 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (9001.10 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 14146-2009
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.10.2009
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB