Silicon epitaxial layers—Determination of carrier concentration—Mercury probe Valtage-capacitance method
NORMA vydána dne 6.2.1993
Označení normy: GB/T 14146-1993
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 6.2.1993
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB