Test method for stacking fault density of epitaxial layers of silicon by interference-contrast microscopy
NORMA vydána dne 6.2.1993
Označení normy: GB/T 14145-1993
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 6.2.1993
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB