GB/T 14142-1993

Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon by etching techniques

NORMA vydána dne 6.2.1993

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (7294.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 14142-1993
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 6.2.1993
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB