GB/T 14141-2009

Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array

NORMA vydána dne 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (5715.60 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (5715.60 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 14141-2009
Publication date standards: 30.10.2009
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB