GB/T 13388-2009

Method for measuring crystallographic orientation of flats on single-crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques

NORMA vydána dne 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (6566.90 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (6566.90 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 13388-2009
Publication date standards: 30.10.2009
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB