GB/T 13388-2009

Method for measuring crystallographic orientation of flats on single-crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques

NORMA vydána dne 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (6492.00 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 13388-2009
Datum vydání normy: 30.10.2009
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB