GB/T 13388-1992

Method for measuring crystallographic orientation of flats on single crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques

NORMA vydána dne 19.2.1992

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (6338.60 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (6338.60 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 13388-1992
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 19.2.1992
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB