GB/T 13387-2009

Test method for measuring flat length wafers of silicon and other electronic materials

NORMA vydána dne 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (4737.40 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 13387-2009
Datum vydání normy: 30.10.2009
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB