NORMSERVIS s.r.o.

GB 6624-1986

Standard method for measuring the surface quality of polished silicon wafers by visual examination

NORMA vydána dne 1.1.1986

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (5044.90 CZK)
Anglicky a čínsky -
Tištěné (5044.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB 6624-1986
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.1986
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB