GB 3444-1982

General principles of measuring methods of bipolar random access memory for semiconductor integrated circuits

NORMA vydána dne 1.1.1982

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (NA DOTAZ)

Informace o normě:

Označení normy: GB 3444-1982
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.1982
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB