E ÖVE EN IEC 63287-4

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans -- Part 4: Early failure assessment (IEC 47/2917/CDV) (english version)

NORMA vydána dne 1.7.2025

Anglicky -
Elektronické PDF (619.60 CZK)

Anglicky -

Tištěné (635.30 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: E ÖVE EN IEC 63287-4
Datum vydání normy: 1.7.2025
Počet stran: 16
Přibližná hmotnost: 48 g (0.11 liber)
Země: Rakouská technická norma
Kategorie: Technické normy ÖNORM