E DIN IEC 62047-8:2008-05

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films.

NORMA vydána dne 1.5.2008

Anglicky a německy -
Elektronické PDF (2349.70 CZK)

Anglicky a německy -

Tištěné (2922.70 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: E DIN IEC 62047-8:2008-05
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.5.2008
Počet stran: 28
Přibližná hmotnost: 84 g (0.19 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy E DIN IEC 62047-8:2008-05 :

Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 8: Streifen-Biege-Prüfverfahren zur Messung von Zugbeanspruchungsmerkmalen dünner Schichten.