E DIN IEC 60749-40:2009-06

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge.

NORMA vydána dne 1.6.2009

Anglicky a německy -
Elektronické PDF (2705.90 CZK)

Anglicky a německy -

Tištěné (3464.20 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: E DIN IEC 60749-40:2009-06
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 1.6.2009
The number of pages: 43
Approximate weight : 129 g (0.28 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text E DIN IEC 60749-40:2009-06 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 40: Prüfverfahren Fall der Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen.